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标签：闩锁效应和其他失效怎么区分

• 闩锁效应与漏电流：半导体中的"真假朋友"**
  半导体器件在高温、高压等极端条件下，可能会发生闩锁效应（Latch-up）。这种现象指的是，在芯片内部，由于电源和地之间的寄生晶体管被意外导通，导致电流过大，从而引发器件损坏。闩锁效应的发生，通常与芯...
  2026-07-15